Metrologia
powierzchni

Analiza powierzchni obejmuje szerokie pole pomiarów, takich jak przykładowo falistość, chropowatość, kształt, itp.). Celem tych badań jest zrozumienie, jak procesy i  interakcje z innymi składnikami i materiałami wpływają na charakterystykę powierzchni. Badania kontrolno-pomiarowe dają wiedzę na temat między innymi: przyczepności, ścieralności, tarcia czy estetyki powierzchni.

Metrologia powierzchni jest używana w najróżniejszych branżach, od geologii w badaniach minerałów, po nowoczesną medycynę stosującą tę mętodę przy analizach odporności błon implantów na przyczepnośc bakterii.

W celu oceny odchyleń w teksturze powierzchni, metrolodzy korzystają z różnych technik mikroskopowych, od mikroskopów laboratoryjnych w układzie prostym, przez mikroskopy pomiarowe automatyczne, cyfrowe i polaryzacyjne, po dość egzotyczny u nas autokolimator.

Laboratoria badawcze na uniwersytetach i działy badawczo-rozwojowe producentów wymagają coraz wyższych poziomów dokładności w pomiarach powierzchniowych. Do produkcji kafli krzemowych (SiC) użytkownicy wymagają  półprzewodników nowej generacji z dokładnością rzędu 1 nanometra. Mikroskopy marki Sensofar S Neox, S mart zostały stworzone właśnie do takich celów.

Polecane produkty





CreateIT