Eclipse LV 100 / LV 150

Laboratoryjne mikroskopy metalograficzne w układzie prostym do pracy w świetle odbitym i przechodzącym. Umożliwiają obserwację próbki w technikach: jasne pole, ciemne pole, polaryzacja i kontraście DIC. Łączą doskonałą jakość obrazu z wysokimi zdolnościami rozdzielczymi i największymi odległościami pracy. Umożliwiają obserwację próbki o wysokości do 82 mm.

Share this product

Eclipse LV to laboratoryjne mikroskopy metalograficzne w układzie prostym do pracy w świetle odbitym i przechodzącym. Umożliwiają obserwację próbki w technikach: jasne pole, ciemne pole, polaryzacja i kontraście DIC.

 W mikroskopach serii LV stosowany jest nowy system optyczny CFI60-2 charakteryzujący się doskonałą jakością obrazu, wysokimi zdolnościami rozdzielczymi i największymi odległościami pracy. Ponadto nowe mikroskopy gwarantują obserwację próbki o wysokości do 82 mm, są stabilne i odporne na wibracje.

Obserwacja w układzie prostym, tzn. obiektywy znajdują się nad stolikiem (w odróżnieniu od klasycznych mikroskopów metalograficznych gdzie obiektywy znajdują się pod stolikiem).

Mikroskop Eclipse LV są idealne do obserwacji np. zgładów metalograficznych, płytek półprzewodnikowych, kryształów, cienkich powłok, matryc CCD itp.

Seria LV oferuje nowo opracowaną serię CFI60-2 zapewniającą najwyższe odłegości robocze i zaawansowaną korekcję aberracji chromatycznych.

Objectives for brightfield observation (epi)

CYFROWA ANALIZA OBRAZU

Kamera DS-U3 pracuje z kontrolem U3 i stacją roboczą. DS-U3 Nikon oraz oprogramowanie NIS-Elements pozwalają na przechwytywanie, przetwarzanie oraz zaawansowaną analizę obrazu za pomocą komputera.

Funkcje DS-U3:
– Składanie obrazów wielkoformatowych, tzw. Funkcja Stitching. Funkcja łączenia obrazów tworząc duże pole widzenia. Jest to łatwiejsze dzięki funkcji równomiernego oświetlenia, tzw. Fly-Eye.
– Łatwy zapis i archiwizacja zdjęć  na USB lub karcie CF.
– Wyświetlanie informacji o aktualnym powiększeniu. Kalibracja danych jest automatycznie zmieniana przy zmianie powiększenia.  Cecha ta ułatwia badania ziaren, metali i minerałów.
– Pomiary ziaren i metali w standardach JIS i ASTM.

MA200 Status Display

Kamera DS-L3 to jednostka pracująca niezależnie od komputera lub monitora. Posiada własny dotykowy panel z dużym monitorem o wysokiej rozdzielczości, stosowany do szybkiego robienia zdjęć – ekran LCD 8.4-calowy XGA pozwala CI obserwować próbkę bezpośrednio z ekranu. Skala wyświetlacza automatycznie dostosowuje się do zmian powiększenia obrazu w mikroskopie. Optymalne parametry przetwarzania obrazu oraz metody obserwacji dla każdego rodzaju próbek można łatwo ustawić z pomocą ikon. Z DS-L3 możesz drukować bezpośrednio z kamery via PictBridge.

Dostępne modele mikroskopów w serii LV to:

LV 150 N – manualny mikroskop do badań w świetle odbitym z możlwiością pracy w jasnym i ciemnym polu, polaryzacji, fluorescencji i interferometrii.

LV150N Compatible observation methods

  • Badania w świetle odbitym
  • Typ manualny

LV 150 NL – wersja mikroskopu LV150N z oświetlaczem LED (bez możliwości ciemnego pola).

LV150N Compatible observation methods

  • Badania w świetle odbitym
  • Typ manualny

LV 150 NA – wersja mikroskopu LV150N ze zmotoryzowaną miską obiektywową co w połączeniu z kamerą i oprogramowaniem umożliwia automatyczny wybór oraz odczyt powiększeń w oprogramowaniu.

  • Badania w świetle odbitym
  • Typ zmotoryzowany (rewolwer)

LV 100 ND – mikroskop podobny do LV150N z wbudowanym dodatkowym oświetlaczem do światła przechodzącego mogącym zapewnić techniki jasnego i ciemnego pola, kontrastu fazowego bądź interferencyjnego i polaryzacji.

LV100ND/ LV100DA-U compatible methods

  • Światło odbite i przechodzące
  • Typ manualny

LV 100 DA-U – zmotoryzowana wersja mikroskopu LV100ND gdzie zdalnie sterować można zmianą obiektywów, przysłonami, intensywnością światła oraz wyborem techniki obserwacyjnej.

LV100ND/ LV100DA-U compatible methods
  • Światło mieszane odbite i przechodzące
  • Typ zmotoryzowany (rewolwer/ natężenie światła / przesłona / wybór metody obserwacji)
  LV 150N
Baza: Maximum sample height: 38 mm (when used with LVNU5AI U5AI nosepiece and LV-S32 3x2 stage / LV-S64 6x4 stage)
* 73 mm when used with one column riser 12V50W internal power source for dimmer, coarse and fine adjustment knobs
Left: coarse and fine adjustment / Right: fine adjustment, 40 mm stroke Coarse adjustment: 14 mm/turn (with torque adjustment, refocusing mechanism)
Fine adjustment: 0.1 mm/turn (1 μm/graduation) Stage mounting hole intervals: 70 x 94 (fixed by 4-M4 screw)Maksymalna wysokość próbki: 38 mm (w przypadku korzystania zrewolwera  LVNU5AI U5AI i LV-S32 stolik  3x2 / LV-S64 stolik  6x4)* 73 mm w przypadku korzystania z jednej kolumny nośnej 12V50W wewnętrznego źródła zasilania ściemniacza, makro- i mikrometrycznej regulacjiPo lewej: gruboziarnista i drobnoziarnistaPo prawej: drobnoziarnista  , skok: 40 mm per obrót; gruboziarnista: skok 14 mm  per obrót  (z regulacją momentu obrotowego, mechanizm ukierunkowania)Precyzyjna regulacja: 0,1 mm / kolej (1 um gradacja )Stolik otworu montażowego  : 70 x 94 (ustalona przez 4-M4 śruba)
Rewolwer: C-N6 ESD Rewolwer   z 6 elementami, ESD LV-NU5 Uniwersalny 5-elementowy rewolwer ESD LV-NBD5 BD 5-elementowy rewolwer  ESD LV-NU5I inteligentny Uniwersalny 5-elementowy rewolwer ESD
Oświetlacz episkopowy: LV-UEPI-NLV-UEPI2
Okulary: Okulary serii CFILV-TI3 trinokular ESD (Erected image, FOV: 22/25)
LV-TT2 TT2 trinokular z nachyleniem  (Erected image, FOV: 22/25)
C-TB binokular (obraz odwrócony, FOV: 22)
P-TB Binokular (obraz odwrócony, FOV: 22)
P-TT2 Trinokular (obraz odwrócony, FOV: 22)
Stoliki: LV-S32 3x2 (75 x 50 mm with szklany) ESD kompatybilny
LV-S64 6x4 ( 150 x 100 mm with szklany) ESD kompatybilny
LV-S6 6x6 (150 x 150 mm) ESD kompatybilny
Obiektywy: Przemysłowy mikroskop z systemem optycznym CFI60-2/CFI60
Wydajność ESD: 1000 to 10V, z  0.2 sec. (z wyłączeniem niektórych akcesoriów)
Zużycie energii: 1.2A/75W
Waga: Koło  8.6kg
CreateIT