Eclipse LV 150 Confovis

Połączenie przystawki konfokalnej w postaci głowicy ConfoCam C1+  z mikroskopem optycznym tworząc uniwersalne urządzenie do zaawansowanych badań topografii powierzchni w branży inżynierii mechnicznej, elektroniki i innych. Połączenie wielu technik badawczych:  Focus Variation, Metody konfokalnej, Oświetlenia Strukturalnego, Systemu ConfoDisc.

Share this product

Pomiarowy firmy  Confovis działający na bazie mikroskopu Nikon LV150. 

Dzięki połączeniu przystawki konfokalnej w postaci głowicy ConfoCam C1+  z mikroskopem optycznym, otrzymujemy uniwersalne urządzenie służące do zaawansowanych badań topografii powierzchni jak również standardowych aplikacji mikroskopowych. W zależności od konfiguracji, możemy korzystać z różnych metod badawczych.

confovisTechnika Focus Variation – pozwalająca  na pomiar większych kształtów oraz geometrii powierzchni pochylonych nawet pod kątem 80 stopni z możliwością jednoczesnej analizy gładszych części powierzchni metodą Confokalną – stanowi idealne rozwiązanie dla badań różnego rodzaju form oraz chropowatości w branży narzędziowej oraz inżynierii mechanicznej . Technika Oświetlenia Strukturalnego zapewnia z kolei precyzyjne, zgodne z obowiązującymi normami pomiary chropowatości 2D nawiązując do DIN ISO 4287/4288  i 3D odnosząc się do DIN ISO 25178. Dodatkowym rozwiązaniem jest też System ConfoDisc CL300  dedykowany do pomiarów mikrostruktur półprzewodnikowych w postaci wafli.

Istnieje również możliwość rozbudowy  posiadanego już mikroskopu o głowicę konfokalną.

Innowacyjna technologia w dziedzinie badań 3D – żadnych ruchomych elementów wewnątrz głowicy!

wykresOpatentowana technologia Confovis  oparta jest na metodzie oświetlenia strukturalnego LED. W przeciwieństwie do konwencjonalnej mikroskopii konfokalnej podczas procesu skanowania, nie ma tutaj żadnych ruchomych części mechanicznych, takich jak zastosowanie luster skanowania.

System  charakteryzujący  się dokładnością i łatwą obsługą wpisuje się idealnie w potrzeby  różnych obszarów badań oraz  przemysłu, takich jak pomiary chropowatości, geometria kształtu oraz mikro pomiary powierzchni z dokładnością sięgającą nawet 1nm.  W celu bardzo precyzyjnego pozycjonowania w osi Z, stosowane są dodatkowo systemy enkoderowe  lub stoliki piezoelektryczne.

conf

Główne zalety systemu:

Charakterystyka 2d i 3d właściwości powierzchniowych za pomocą szybkiego  skanowania
Wolne od artefaktów oraz rzeczywiste wyniki pomiarowe dzięki zastosowanej technologii -oprogramowanie nie wypełnia punktów pomiarowych  tylko przedstawia rzeczywiście zmierzone miejsca
Szeroki zakres możliwości pomiarów powierzchni oraz materiałów –  nawet silnie odbijające światło powierzhnie oraz obiektprzezroczyste  powłoki
Standardowe pomiary chropowatości zgodne z normami
Intuicyjne oraz przyjazne dla użytkownika Oprogramowanie ConfoVIZ®
Zaawansowana analiza danych pomiarowych w oprogramowaniu MountainsMap©

czas

Fizyczne pomiary  charakterystyki powierzchni przeprowadza się w bardzo szybki i niezawodny sposób. Dla typowego skanowania powierzchniowego ConfoCam C1 +  wymaga mniej niż dziesięć sekund. Oprogramowanie konwertuje stos zrobionych zdjęć  w obraz 3D, który jest dostępny dla użytkownika natychmiast po zakończeniu optycznego  skanowania.

opcje

Więcej na: http://www.confovis.com/home.html

CreateIT