Seria NEXIV VMF-K firmy Nikon poprawia tradycyjne systemy pomiarowe dzięki zaawansowanemu systemowi optycznemu konfokalnemu. Zaprojektowana w celu zwiększenia szybkości pomiarów, seria VMF-K pozwala użytkownikom analizować różne materiały i komponenty z niespotykaną dotąd wydajnością i precyzją. Seria NEXIV VMF-K radzi sobie z wyzwaniami związanymi ze złożonymi geometriami próbek, w tym powierzchniami o wysokim kontraście i materiałami przezroczystymi, umożliwiając użytkownikom uzyskiwanie szczegółowych pomiarów, które wcześniej były trudne do uzyskania. Zintegrowane możliwości pomiarów 2D i 3D systemu znacznie skracają czas inspekcji w porównaniu z tradycyjnymi metodami, umożliwiając znacznie szybsze i bardziej kompleksowe procesy kontroli jakości.