email:biuro@optotom.pl | tel: +48 664 057 948 

STRONA W TRAKCIE MODERNICAZJI. PRZEPRASZAMY ZA UTRUDNIENIA

Facebook

Tu zaczyna się jakość - urządzenia dla Twojego laboratorium

JEOL NeoScope JCM-7000 SEM

Wysoce zaawansowane funkcje automatyczne, automatyzacja sceny i oprogramowanie JCM-7000 umożliwiają łatwe obrazowanie próbek i analizę elementarną dla użytkowników na każdym poziomie doświadczenia. Wyposażony w dużą komorę próbek, tryby pracy zarówno w wysokiej, jak i niskiej próżni, detektory elektronów wtórnego i wstecznego rozpraszania (SED i BSED), obrazowanie 3D w czasie rzeczywistym, łatwe w użyciu narzędzia metrologiczne i opcjonalne, w pełni zintegrowane EDS. JCM-7000 NeoScope jest INTELIGENTNY – ELASTYCZNY – MOCNY.

INTELIGENTNY - ELASTYCZNY - MOCNY.

Inteligentne – najnowsze innowacje są wbudowane w platformę stacjonarną, aby SEM był dostępny dla każdego. Wszystkie elementy sterujące są w zasięgu ręki użytkownika dzięki intuicyjnemu interfejsowi oprogramowania. Automatyczne ustawienie warunków jest oparte na typie próbki i aplikacji do tworzenia obrazu w ciągu kilku minut. Płynna nawigacja od grafiki lub obrazu optycznego (opcja) do obrazu SEM o wysokiej rozdzielczości zwiększa produktywność.

Elastyczność – wybierz odpowiednią platformę. Dodaj opcje, takie jak Stage Navigation System (kamera kolorowa), zmotoryzowany uchwyt Tilt Rotation do manipulacji próbkami, w pełni wbudowany EDS do analizy elementarnej i Mapa Smile View do rekonstrukcji obrazu 3D i analizy tekstury powierzchni.

Mocny – źródło żarnika wolframowego (W) o wysokiej rozdzielczości umożliwia powiększenie do 100 000X. Duża komora analityczna może pomieścić próbki tak duże, jak 80 mm (D) x 50 mm (H). Wtórne i wsteczne detektory elektronów wraz z trybami pracy wysokiej i niskiej próżni pozwalają na badanie szerokiej gamy typów próbek. Detektor BSE obsługuje obrazowanie 3D na żywo, zapewniając intuicyjną wiedzę o kształcie powierzchni próbki.

Funkcje

Zeromag – Upraszcza nawigację i zwiększa przepustowość, zapewniając płynne przejście z obrazu z kamery kolorowej (opcja) lub grafiki pierwotnej do obrazu SEM na żywo.

Montaż – możliwość ustawienia automatycznego łączenia obrazów i automatycznego montażu map EDS.

Wiele trybów obrazowania na żywo – Jednoczesne obrazowanie SE i BSE obejmuje mieszanie sygnałów z kontrolą użytkownika udziału każdego detektora.

Łatwa instalacja – ten system jest kompatybilny ze standardowym gniazdkiem elektrycznym (nie jest wymagany specjalny obwód).

SmileView ™ Lab – oprogramowanie do centralnego zarządzania danymi łączy obraz SNS (optyczny), obrazy SEM oraz wyniki i lokalizacje analizy EDS. Inteligentny układ raportu.

Poprawa wydajności pracy

Jaki obcy materiał obserwuje się po raz pierwszy pod mikroskopem optycznym? Czy występują problemy z kształtem części? Czy surowiec był zanieczyszczony lub niezgodny ze specyfikacją? Szybko potwierdź morfologię i skład (elementy składowe), których nie można w pełni zidentyfikować za pomocą samego mikroskopu optycznego.

Zwiększenie wydajności: przykład – Kontrola jakości Dzięki SEM można obserwować kompozycyjny kontrast, którego nie można zobaczyć na obrazie optycznym, więc nawet przy tym samym powiększeniu można uzyskać więcej informacji. Obserwację i analizę można przeprowadzić bez wstępnej obróbki próbki w trybie niskiej próżni.

Płynne przejście od obrazowania optycznego do SEM

Zeromag (akcesorium opcjonalne) Obraz optyczny jest uzyskiwany automatycznie po włożeniu próbki. Wyszukaj pole widzenia na obrazie optycznym, a następnie przybliż cel, aby automatycznie przełączyć się na obraz SEM. Przejście do pozycji obserwacyjnej jest łatwe w celu szybkiego pozyskania obrazu SEM przy minimalnej liczbie kroków.

Liść olivy 100 μm i 10 μm

Tryb niskiej próżni (LV)

Oprócz trybu wysokiej próżni, zapewniającego najczystszą obserwację morfologii powierzchni metodą SEM, JCM-7000 jest również wyposażony w dwa dodatkowe tryby ciśnienia LV, które umożliwiają przeglądanie i obrazowanie różnych nieprzewodzących próbek bez obróbki wstępnej.

Kryształek soli 500 μm i 10 μm

Płynne przejście od obrazowania SEM do analizy EDS

Dzięki analizie na żywo obserwacja SEM i analiza EDS nie są już oddzielnymi krokami. Widmo promieniowania rentgenowskiego z głównymi elementami składowymi jest wyświetlane w czasie rzeczywistym na ekranie obserwacji. JCM-7000 zawiera również Live Map, aby wyświetlić przestrzenne rozmieszczenie elementów w czasie rzeczywistym. Mapa na żywo zwiększa prawdopodobieństwo znalezienia interesujących elementów, a także wykrycia nieoczekiwanych elementów.

Badanie przesiewowe podczas wykonywania obserwacji za pomocą analizy na żywo.

Proste tworzenie raportów i zarządzanie danymi

SMILE VIEW Lab to w pełni zintegrowany program do zarządzania danymi, który łączy obrazy optyczne, obrazy SEM, wyniki analizy EDS i odpowiednie współrzędne etapu w celu szybkiego generowania raportów lub przywoływania pozycji próbki i warunków SEM do dalszych badań.  Zarządzający danymi użytkownicy mogą przeglądać lub ponownie analizować dane, a także generować raporty zbiorcze ze wszystkich danych i obrazy SEM poprzez analizę.

Główne specyfikacje

 
Direct magnificationx10 to 100,00
Magnification is defined by 128 mm x 96 mm
Display magnificationx24 to 202,168
Magnification is defined by 280 mm x 210 mm
ModeHigh-Vacuum mode: secondary electron image, Backscattered electron image (composition, topographic and shadow, 3D images)
Low Vacuum mode: backscattered electron image (composition, topographic and shadow, 3D images)
Accelerating voltage5 kV, 10 kV, 15 kV (3 stages)
Electron sourceTungsten filament / Wehnelt Integrated gird
Specimen stageX-Y motor drive stage
X: 40 mm Y: 40 mm
Maximum specimen size80 mm diameter x 50 mm height
Specimen exchangeDraw-out mechanism
Pixels for image acquisition540 x 480, 1,280 x 960
2,560 x 1920, 5,120 x 3,480
Automatic functionsAlignment, focus, stigmator, brightness / contrast
Measurement functionsDistance between 2 points, angles, line, width
File formatBMP, TIFF, JPEG, PNG
ComputerDesktop PC Windows® 10
Monitor24 inch
Vacuum systemFull-automatic TMP: 1, RP: 1

Wymagania instalacyjne

 
Power supply

Single phase AC 100 V (120 V, 220 V, 240 V are supported) 50 / 60 Hz
Maximum 700 VA
(AC 10 V), 840 VA (AC 120 V)
880 VA (AC 220 V), 960 VA (AC 240 V)

Voltage variation tolerance90 to 110 V at power supply voltage 100 V
108 to 132 V at power supply voltage 120 V
198 to 242 V at power supply voltage 220 V
216 to 250 V at power supply voltage 240 V
Grounding
Installation roomTemperature: 15 to 30°C
Humidity: 30 to 60% RH (no condensation)
Stray magnetic fields: 0.3 μT or less (50 / 60 Hz, sine wave)
Desk: 100 kg or more, with rigidity
Main unit dimensions(W) 324 mm x (D) 586 mm x (H) 566 mm
Main unit weight67 kg

Adres główny:
ul. Głębocka 54c/30
03-287 Warszawa
e-mail:biuro@optotom.pl
tel: +48 664 057 948

Facebook

Zachęcamy do zapoznania się z naszymi najnowszymi informacjami