
Nowy pomiarowy mikroskop konfokalny z serii Nexiv
Nikon VMF-K – Konfokalny optyczny system pomiarowy Seria NEXIV VMF-K firmy Nikon przekształca pomiary optyczne, łącząc szybkie możliwości 2D i 3D
Stroke (X x Y x Z) | 450 x 400 x 200 mm (18” x 16” x 8”) |
---|---|
Minimum readout | 0.1 µm |
Maximum workpiece weight | 40 kg (up to 20 kg accuracy guaranteed) |
MPE * | EUX,MPE EUY,MPE: 2+6L/1000 µm (with Vision AF) |
Camera | 1/3-in. 3CCD color Progressive scan (B/W optional) |
Working distance | 73.5 mm (63 mm with LAF) |
Magnification | Optical: 0.35 to 3.5x |
FOV size | 13.3 x 10 to 1.33 x 1 mm |
Auto focus | Vision AF and optional Laser AF |
Illumination | |
Contour Illumination | White LED illumination |
Surface Illumination | White LED illumination |
Oblique Illumination | 8-segment white LED ring |
Video resolution | 640 x 480 (pixels) |
Touch probe | Renishaw® TP200/TP20 (option) |
Power source | 100-240 V, 50/60 Hz |
Power consumption | 5-2.5 A |
Dimensions & weight | |
Main body (W x D x H) | 1000 x 1340 x 1553 mm (minimum height), 500 kg |
Controller | 145 x 400 x 390 mm, 13 kg |
Table for main body (option) | 1000 x 830 x 491 mm |
Recommended workbench | Min. load capacity 1000kg or more |
Operational environment | |
Temperature | 10 to 35ºC |
Humidity | 70% or less |
Nikon VMF-K – Konfokalny optyczny system pomiarowy Seria NEXIV VMF-K firmy Nikon przekształca pomiary optyczne, łącząc szybkie możliwości 2D i 3D
Mikroskop automatyczny Nikon AMS Czym jest Mikroskopia Automatyczna? Mikroskopia Automatyczna upraszcza skomplikowane inspekcje dzięki narzędziom „One Click Inspection Tools”. Pakiet oprogramowania typu „wszystko w jednym”
Nikon poszerza gamę systemów tomografii komputerowej X-XRAY CT – nowa seria VOXLS 30. Firma Nikon (https://industry.nikon.com) wprowadziła na rynek trzy nowe modele systemów rentgenowskich tomografii