
Nowy pomiarowy mikroskop konfokalny z serii Nexiv
Nikon VMF-K – Konfokalny optyczny system pomiarowy Seria NEXIV VMF-K firmy Nikon przekształca pomiary optyczne, łącząc szybkie możliwości 2D i 3D
.
Stroke (X x Y x Z) | 650 x 550 x 200 mm |
---|---|
Measurement range withTP
(Touch Probe) *1 | 600 x 550 x 166 mm (TP20) 600 x 550 x 170 mm (TP200) 650 x 550 x 200 mm (withVision AF) |
Measurement range withTP & MCR20 *2 | 525 x 550 x 166 mm (TP20) 525 x 550 x 170 mm (TP200) 575 x 550 x 200 mm (withVision AF) |
Minimum readout | 0.1 µm |
Maximum workpiece weight | 50 kg |
Maximum workpiece weight (accuracy guaranteed) | 30 kg |
Maximum permissible error *3
(L = Lengthin mm) | EUX,MPE EUY,MPE: 2+6L/1000 µm EUXY,MPE: 3+6L/1000 µm EUZ,MPE: 3+L/100 µm |
Camera | 1/3-in. progressive scan b/w camera (standard), 1/3-in. progressive scan color camera (optional) |
Working distance | 73.5 mm (63 mm withLaser AF) |
Magnification | Optical: 0.35 to 3.5x (0.52x to 5.2x high magnification is available as an option) On screen: 12.6 to 126x with24-inch WUXGA (1920 x 1200 pixels) monitor |
FOV size on stage | 13.3 x 10 mm to 1.33 x 1 mm (8.9 x 6.7 mm to 0.89 x 0.67 mm withhigh-magnification option) |
Auto focus | Vision AF and optional Laser AF |
Illumination | Contour illumination: White LED diascopic illumination Surface illumination: White LED episcopic illumination Oblique illumination: 8-segment white LED ring illumination |
Video resolution | 640 x 480 (pixels) |
Touch probe (optional) *1 | Renishaw® TP200/TP20 |
Power source | 100 V-240 V, 50/60 Hz |
Power consumption | 5 A (100 V) – 2.5 A (240 V) |
Dimensions & weight | Main body with table (W x D x H): 1200 x 1640 x 1553 mm, 665 kg Controller: 145 x 400 x 390 mm, 14 kg |
Operational environment | Temperature: 10°C to 35°C Humidity: 70% or less |
Accuracy guaranteed temperature | 20°C ±0.5K |
Host computer | |
CPU | Intel® Core™ 2 Duo CPU or faster |
Memory | 4GB or more |
OS | Windows® 7 32bit |
Interface | USB2.0 / IEEE1394 |
Nikon VMF-K – Konfokalny optyczny system pomiarowy Seria NEXIV VMF-K firmy Nikon przekształca pomiary optyczne, łącząc szybkie możliwości 2D i 3D
Mikroskop automatyczny Nikon AMS Czym jest Mikroskopia Automatyczna? Mikroskopia Automatyczna upraszcza skomplikowane inspekcje dzięki narzędziom „One Click Inspection Tools”. Pakiet oprogramowania typu „wszystko w jednym”
Nikon poszerza gamę systemów tomografii komputerowej X-XRAY CT – nowa seria VOXLS 30. Firma Nikon (https://industry.nikon.com) wprowadziła na rynek trzy nowe modele systemów rentgenowskich tomografii