Wspólnie z firmą Sensofar wzięliśmy udział w Międzynarodowej Konferencji: International Conference on Surface Metrology ICSM 2016, która odbyła się na terenie Politechniki Poznańskiej w kwietniu. Była to dla nas doskonała szansa do zapoznania się z najnowszymi odkryciami oraz informacjami technicznymi przedstawianymi przez wybitnych fachowców w dziadzinie metrologii powierzchni z całego świata. Podczas Konferencji mieliśmy również przyjemność zaprezentowania naszych najnowszych rozwiązań w zakresie badań powierzchni różnymi metodami.
